[設備増強のお知らせ]
phoenix v|tome|x m 導入によるサービス体制強化

株式会社JMCは、 GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社(以下、 GE SIT社)製マイクロフォーカスCTの最上位機種である 「phoenix v|tome|x m」を2018 年第1 四半期に新工場であるコンセプトセンター第5期棟(長野県飯田市)に導入することを決定しました のでお知らせいたします。
「phoenix v|tome|x m」は、 scatter|correct(散乱線補正システム)を搭載 し、 VDI2630 準拠の高精度計測を実現するCT装置です。 scatter|correct を搭載するCT装置を受託サービス業で導入した事例はなく、 この度の当社の導入が国内初となります。
 現在、 当社はGE SIT社製の「phoenix nanotom m」2台及び「phoenix v|tome|x C450」1台を保有しておりますが、 「phoenix v|tome|x m」導入によって、 ミリ/マイクロ/ナノフォーカスという全てのクラスのCT装置を保有 することになります。 これにより、 顧客のあらゆる要望に対応可能な国内最高水準の受託サービス体制が構築されるとともに、 受託撮影能力の大幅な強化が実現します。
 また、 平成29 年2月にGE SIT社と当社はCT装置及び関連サービスの販売に関する業務提携契約を締結しておりますことから、 保有するCT装置の実践的使用から得られる高度なノウハウや技術をCT装置及び関連サービスの販売へ今後より一層活用してまいります。

非破壊評価総合展


【導入装置概要】
名 称:phoenix v|tome|x m
X 線管:300kV マイクロフォーカス 180kV ナノフォーカスの2 管球を搭載
検出器:Dynamic41|100(4,000x4,000 ピクセル、ピクセルサイズ100μm のフラットパネルディテクタ)
備 考:scatter|correct を搭載(受託サービスとしては国内初導入), VDI2630 規格準拠の高精度メトロロジーシステムを搭載


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