装置の特徴

JMCでは、「phoenix v|tome|x m300」をフルオプションで導入しており、GE社の新技術であるscatter|correct(散乱線補正システム)や、VDI2630 準拠の高精度計測を実現するmetrology|edition、約16メガピクセルの 検出器であるdynamic 41|100を搭載しています。「phoenix v|tome|x m300」によって、軽金属の撮影や、複数の部品が組み合わさった製品の撮影などにおいて、画像の品質と撮影効率が向上すること見込んでいます。


phoenix v|tome|x m300 のスペック詳細

フラットパネルディテクタ dynamic 41|100

dynamic 41|100は、GE社の次世代産業用X線フラットパネルディテクタ(面状検出器)になります。410×410 mm2の検出領域と100μmのピクセルサイズで、優れた画質と検出速度の向上を両立しています。また従来よりも感度が高くなったことで、より低出力でスキャンを行うことが可能になりました。

散乱線補正システム scatter|correct

  • 医療用CTスキャナ
  • 産業用CTスキャナ

GE社の新技術であるscatter|correct(散乱線補正システム)は、事前のスキャンで取得した散乱線を学習し、実際のスキャンでは散乱線を軽減する補正をかけて実施することが出来るシステムです。これによって、スキャンで得られる画像のアーチファクトの軽減とグレイバリューの均一化を望むことができ、より高精度な測定が可能になります。

metrology|edition

従来よりも精度を高めるオプション装備のmetrology|editionを実装しており、 VDI 2630に準拠した最大4+L/100μmの 測定精度となっています。

phoenix v|tome|x m300 サンプル撮影画像


CTスキャン注文

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